透射电子显微镜

百检网 2021-11-11

JEM-2100F场发射透射电子显微镜系日本电子株式会社产品，具有透射（TEM）、会聚束衍射（CBED）及纳米束衍射（NBD）等工作模式，并可与能谱仪联机，进行样品成分分析。其主要功能： 1）利用质厚衬度（又称吸收衬度）像，对样品进行一般形貌观察。 2）利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群。 3）利用高分辨电子显微技术可直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影，确定晶体结构。 4）利用衍衬像和高分辨电子显微像技术，观察晶体中存

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