标准简介
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。英文名称：Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
标准状态：作废
替代情况：替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：电气工程>>29.045半导体材料
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1997-01-02
实施日期：1998-08-01
作废日期：2010-06-01
出版日期：2004-04-01
页数：平装16开， 页数：8， 字数：12千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
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