标准简介
本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片的抗弯强度测试方法。本标准适用于晶向为〈111〉和〈100〉的直拉、悬浮区熔硅单晶片的常温下抗弯强度的测量。硅片厚度为250～900μm。英文名称：Test method for measuring flexure strength of silicon slices
标准状态：作废
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H23金属工艺性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1995-07-12
实施日期：1996-02-01
作废日期：2005-10-14
页数：平装16开， 页数：9， 字数：14千字
前言
金属工艺性能试验方法相关标准
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