GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

百检网 2022-10-18

标准简介

本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。
英文名称:Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L50光电子器件组合
ICS分类:电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2003-01-01
实施日期:2004-08-01
出版日期:2004-08-01
页数:16开, 页数:27, 字数:48千字

前言

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