标准简介
优先额定值见GB/T12273—1996的2.3。 ———工作温度范围; ———电路条件; ———*大激励电平; ———激励电平测量; ———气候类别; ———机械试验严酷度。 按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC001005得到。英文名称：Quartz crystal units A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5.1: Blank detail specification- qualification approval
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 15020-1994
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件
ICS分类：电气工程>>电工器件>>29.120.70继电器
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
出版日期：2013-02-15
页数：12页
前言
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。GB/T12273《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范》分为如下几个部分:———第1部分:总规范;———第2部分:使用指南;———第3部分:标准外形和引出端连接;———第4部分:分规范 能力批准;———第4.1部分:空白详细规范 能力批准;———第5部分:分规范 鉴定批准;———第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准。本部分为GB/T12273的第5.1部分。本部分代替GB/T15020—1994《电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平E》,与GB/T15020—1994相比,除编辑性修改外主要变化如下:———由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容;———删去了应该直接写在分规范中的规定内容;———标准编号按标准不同部分进行了调整。本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993《石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系 第3部分:分规范 鉴定批准**篇:空白详细规范》。本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC61178-1被IEC60122-1:2002代替,目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构,本部分应为IEC60122的第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC60122的预计结构。这样的结构清晰并方便使用,并且与IEC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。本部分作了下列编辑性修改:———外形和尺寸图由第三视角改为**视角;———规范性引用文件中的IEC文件为目前的现行版本。———用GB/T2828.1—2003代替IEC410:1973 计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中无技术性差异。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T15020—1994。
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