标准简介
本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。英文名称：General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits
标准状态：作废
替代情况：作废;
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1991-04-28
实施日期：1991-01-02
作废日期：2005-10-14
页数：平装16开， 页数：14， 字数：23千字
前言
微电路综合相关标准
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