标准简介
本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。 本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。 本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。 本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也 可参照执行。 本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下： ——增加前言； ——引用新的规范性文件； ——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型； ——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留*小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许*大噪声”。英文名称：Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 13178-1991
中标分类：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F88核探测器
ICS分类：能源和热传导工程>>27.120核能工程
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-07-02
实施日期：2009-04-01
出版日期：2008-11-01
页数：12页
前言
本标准参考了IEC60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。本标准代替GB/T13178-1991《金硅面垒型探测器》(以下简称原标准)。本标准保留GB/T13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:---增加前言;---引用新的规范性文件;---产品的外形及结构尺寸仅保留A 型,删去原标准的B型和C 型;---部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留*小耗尽层深度为300μm 一类,而主要性能增加允许*大噪声。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。本标准主要起草人:李志勇。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T13178-1991。
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