标准简介
本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。本标准适用于集成电路芯片相似性比对,检验集成电路芯片设计的相似性。英文名称：Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：公安部
发布日期：2014-07-09
实施日期：2014-07-09
出版日期：2014-07-09
页数：8页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由公安部第三研究所提出。本标准由公安部信息系统安全标准化技术委员会归口。本标准起草单位:公安部第三研究所。本标准主要起草人:沙晶、金波、杭强伟、蔡立明、徐隽。
