标准简介
英文名称：Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家标准化管理委员.
发布日期：1998-05-08
实施日期：1998-01-02
出版日期：2004-04-12
页数：5页
前言
电子光学与其他物理光学仪器相关标准
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