标准简介
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。英文名称：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 17444-1998
中标分类：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件
ICS分类：电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
出版日期：2014-04-15
页数：28页
前言
本标准按照GB1.1—2009给出的规则起草。本标准代替GB/T17444—1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》,与GB/T17444—1998相比主要变化如下:———标准名称修改为《红外焦平面阵列参数测试方法》。———增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、饱和信号电压、像元噪声等效温差。———增加一些参数测试方法,如:固定图形噪声、读出速率、帧频。———增加了附录D《调制传递函数测试方法》、附录E《非线性度测试方法》。———修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率。———修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光谱响应、串音。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。本部所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T17444—1998。
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