标准简介
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。英文名称：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 17473.2-1998
中标分类：冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金
ICS分类：冶金>>有色金属>>77.120.99其他有色金属及其合金
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
出版日期：2008-06-01
页数：4页
前言
本标准是对GB/T17473-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分)的整合修订,分为7个部分:---GB/T17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;---GB/T17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定;---GB/T17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定;---GB/T17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测试;---GB/T17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;---GB/T17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定;---GB/T17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定。本部分为GB/T17473-2008的第2部分。本部分代替GB/T17473.2-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定》。本部分与GB/T17473.2-1998相比,主要有如下变动:---将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定;---删除了范围中非贵金属浆料亦可参照本标准执行的内容;---对检测试样不少于5份,每份2g的要求取消,只要求试样充分搅拌均匀。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主要起草人:武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:---GB/T17473.2-1998。
