标准简介
GB/T17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。 GB/T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。 除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定义的邻近式卡。英文名称：Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
ICS分类：信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2010-12-01
实施日期：2011-04-01
出版日期：2011-04-01
页数：28页
前言
GB/T17554在《识别卡 测试方法》总标题下,目前分为如下7个部分:———第1部分:一般特性测试;———第2部分:磁条卡;———第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备;———第4部分:无触点集成电路卡;———第5部分:光记忆卡;———第6部分:接近式卡;———第7部分:邻近式卡。本部分为GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用国际标准ISO/IEC10373-7:2008《识别卡 测试方法 第7部分:邻近式卡》(英文版)。本部分与ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列内容,并在相应条款的外侧页边空白处用单垂线标示:a) 为了使标准更加清晰易懂,增加了缩略语PCB;b) 为了便于引用,8.1.2做了编辑性修改;c) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VICC不能正常工作的情况,增加第9章工作场强测试。本部分的附录A、附录C和附录D是规范性附录。本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。本部分主要起草人:冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。
