标准简介
GB/T17626的本部分规定了在运行条件下的设备主要对下述场所的脉冲磁场骚扰的抗扰度要求: ———工业设施和发电厂; ———中压和高压变电站。 本部分的适用性是由安装在不同地点的设备,如第3章中所述出现的现象而决定。 本部分不考虑在现场设施的电缆中或其他部分中的容性和感性耦合而引起的骚扰。 与此有关的传导骚扰在其他EMC标准中考虑。 本部分的目的是制定一个具有通用性和重复性的基准,以评价处于脉冲磁场中的家用、商业和工业用电气和电子设备的性能。 本部分规定了下列几项: ———推荐的试验等级; ———试验设备; ———试验配置; ———试验程序。英文名称：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Pulse magnetic field immunity test
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 17626.9-1998
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容
ICS分类：电信、音频和视频技术>>33.100电磁兼容性(EMC)
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-12-30
实施日期：2012-08-01
出版日期：2012-08-01
页数：28页
前言
GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》分为以下几个部分:GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.12—1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验本部分为GB/T17626的第9部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分等同采用国际标准IEC61000-4-9:2001《电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验》。本部分代替GB/T17626.9—1998《电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验》。本部分进行下列编辑性修改:a) 删除了国际标准的前言和引言,将有关内容写入本部分前言中;b) “IEC61000-4的本部分”改为“GB/T17626的本部分”;c) 规范性引用文件中增加了GB/T4365—2003 电工术语 电磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT);d) 6.1.1中“100A~1000A,除以线圈因数”改为“100A/m~1000A/m 除以线圈因数”;e) A.2中“场强/注入电流的比值(H/A)”改为“场强/注入电流的比值(H/I)”。本部分与GB/T17626.9—1998的主要差异如下:ⅢGB/T17626.9—2011/IEC61000-4-9:20011) 修改了气候条件要求。2) 修改了试验结果的评定方法。3) 修改了试验报告的要求。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。本部分负责起草单位:上海工业自动化仪表研究院、国网武汉高压研究院。本部分参加起草单位:上海仪器仪表自控系统检验测试所、上海计量测试技术研究院。本部分主要起草人:王英、吴维宁、万保权、邬雄、李妮、龚增、俞磊。本部分代替标准历次版本的发布情况为:———GB/T17626.9—1998。
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