标准简介
本标准规定了两种方法，用于测定ＡＥＳ和ＸＰＳ谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的*大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的*大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。英文名称：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>计算机>>L67计算机应用
ICS分类：信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.70 信息技术在自然科学中的应 化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2007-07-31
实施日期：2008-03-01
出版日期：2008-03-01
页数：16页
前言
本标准等同采用ISO21270:2004《表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性》(英文版)。本标准等同翻译ISO21270:2004。为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改:---用小数点符号.代替小数点符号,;---用本标准代替本国际标准。本标准附录A 为资料性附录。本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:中国科学院化学研究所、中国计量科学研究院。本标准起草人:刘芬、邱丽美、赵良仲、王海、宋小平、沈电洪。
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