标准简介
本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二*管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范》。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，具体内容包括：机械说明；简要说明；质量评定类别；*限值；电特性；标志；订货资料；试验条件和简要要求等。英文名称：Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二*管
ICS分类：电子学>>半导体器件>>31.080.30三*管
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2007-06-29
实施日期：2007-11-01
出版日期：2007-11-01
页数：平装16开 页数：14, 字数：22千字
前言
半导体二*管相关标准
