标准简介
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。英文名称：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1993-01-21
实施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
页数：平装16开， 页数：14， 字数：24千字
前言
半导体集成电路相关标准
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