标准简介
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。 本标准适用于表面电阻的测试范围如下： ———频率：８GHz＜f＜３０GHz ———测试分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）英文名称：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 22586-2018代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.99金属材料的其他试验方法
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-12-15
实施日期：2009-05-01
作废日期：2018-10-01
出版日期：2009-03-01
页数：24页
前言
本标准等同采用ＩＥＣ６１７８８-７：２００６《电子性能测量 微波频率下超导体的表面电阻》（英文版），在技术内容上与该国际标准一致。为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：ａ）用“本标准”代替“本国际标准”。ｂ）将“ＩＥＣ／ＴＣ９０引言”改为“引言”等有关内容。ｃ）用小数点“．”代替作为小数的“，”。本标准的附录Ａ 为资料性附录。本标准由国家超导技术联合研究开发中心和全国超导标准化技术委员会提出。本标准由全国超导标准化技术委员会归口。本标准负责起草单位：电子科技大学。本标准参加起草单位：清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。本标准主要起草人：罗正祥、刘宜平、李宏成、吉争鸣、郑东宁、许伟伟、张其劭、魏斌、曾成。
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