标准简介
本标准规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本标准适用于各种金属与非金属晶体薄膜（包括粉末试样与萃取复型试样）的电子衍射分析。可分析的*小试样区直径为1 μm。应用电子衍射谱可以获得试样晶体对称性、点阵常数和布拉菲格式类型等数据。利用已知晶体薄膜的电子衍射谱可以测定透射电子显微镜的衍射常数。被分析试样区直径小于1 μm时，可参照执行。英文名称：Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 18907-2013代替
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：成像技术>>37.020 光学设备 计量学和测量、物理现象>>17.180光学和光学测量
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2002-12-05
实施日期：2003-05-01
作废日期：2014-03-01
出版日期：2003-05-01
页数：平装16开， 页数：15， 字数：25千字
前言
电子光学与其他物理光学仪器相关标准
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