标准简介
本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。英文名称：Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique
标准状态：现行
替代情况：废止公告：国家标准公告2017年第31号
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：电子学>>31.020 电子元件综合 31电子学
发布部门：机械电子工业部
发布日期：1989-03-22
实施日期：1990-03-01
作废日期：2017-12-15
出版日期：1990-03-03
页数：5页
前言
电子技术专用材料相关标准
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