标准简介
本标准规定了用择优腐蚀技术检验硅晶体完整性的方法。英文名称：Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
标准状态：作废
替代情况：GB 1554-1979;GB 4057-1983;被GB/T 1554-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H26金属无损检验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
作废日期：2010-06-01
出版日期：1995-12-01
页数：平装16开， 页数：12， 字数：20千字
前言
金属无损检验方法相关标准
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