标准简介
本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。英文名称：Test methods of semiconductor lasers
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L51激光器件
ICS分类：电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门：中国标准出版社
发布日期：2015-02-04
实施日期：2015-08-01
出版日期：2015-08-01
页数：36页
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。
