标准简介
本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择,给出了五种数据处理的方式:原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法。英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2015-10-09
实施日期：2016-09-01
出版日期：2016-09-01
页数：16页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准使用翻译法等同采用ISO11938:2012《微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析》(英文版)。与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T6379.6—2009 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第6部分:准确度值的实际应用(ISO5725-6:1994,IDT)———GB/T20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则(ISO17470:2004,IDT)———GB/T21636—2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语(ISO23833:2006,IDT)———GB/T28634—2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析(ISO22489:2006,IDT)———GB/T30705—2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则(ISO14594:2003,IDT)本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准主要起草单位:中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人:陈振宇、李香庭、曾毅、周剑雄。
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