标准简介
本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。英文名称:Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
标准状态:现行
中标分类:化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类:化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2016-02-24
实施日期:2017-01-01
出版日期:2017-01-01
页数:16页
前言
本指导性技术文件按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本指导性技术文件使用翻译法等同使用ISO/TR 18932:2005《表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序》。本指导性技术文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)提出并归口。本指导性技术文件负责起草单位:清华大学、中山大学。本指导性技术文件主要起草人:李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法。