GB 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

百检网 2022-10-23

标准简介

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for mean coefficient of linear expansion
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 5594.3-2015代替
中标分类：>>>>L32
ICS分类：31.030
发布部门：国家标准局
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
作废日期：2016-01-01
页数：2页

前言

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