标准简介
本标准规定了工业计算机X射线和伽玛射线照相的基本技术和存储磷光成像板(IP)的一般准则,其目的是保证在工业金属材料检测应用中获得理想和重复性的结果。所使用的伽玛射线源、X射线装置和有关器材的基本要求应符合有关的规定并适用于相关产品标准。本标准未规定缺陷的验收准则。英文名称：Non-destructive testing—Test method for computed radiography of metallic materials
标准状态：现行
替代情况：被GB/T 26642-2022代替
中标分类：机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法
ICS分类：试验>>19.100无损检测
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-06-16
实施日期：2012-03-01
作废日期：2022-10-01 即将作废 距离作废日期还有16天
出版日期：2012-03-01
页数：20页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准采用重新起草法修改采用EN14784-2:2005《无损检测 存储磷光成像板工业计算机射线照相 第2部分:金属材料X射线和伽玛射线检测总则》。本标准与EN14784-2:2005的技术性差异及其原因如下:———关于规范性引用文件,本标准做了具有技术性差异的调整,以适应我国的技术条件,调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中,具体调整如下:● 增加引用了GB/T3323—2005(见7.1)、GB/T5677—2007(见7.1)、GB/T9445(见4.1)、GB11533(见4.4)、GB/T12604.2(见第3章)、GB/T19802(见7.11);● 用等同采用国际标准的GB/T23901.1~23901.5代替了EN462.1~462.5(见第5章、6.6.1、7.4、7.9);———修改了部分术语和定义(见3.1、3.6);———增加了部分术语和定义(见3.8、3.9、3.10);———增加了第4章中人员资格的具体要求;———增加了第5章中采用更高类别的CR系统来补偿灵敏损失的方法;———删除了第5章中可以用阶梯孔像质计来证明胶片射线照相和计算机射线照相在采用A 级和B级技术检测缺陷时可比性;———增加了6.2中射线检测时机的具体要求,根据相应国内标准惯例及相关技术,增加对有延迟裂纹倾向的材料检测时机的要求;———修改了6.3中透照标识的要求,与我国射线检测惯例一致;———修改了6.6.1中双线型像质计使用的具体时机;———增加了6.6.2中像质计放置要求;———增加了6.6.3中像质计识别要求;———增加了7.3中不同的IP-扫描器系统对源种类和能量范围的适应性的概念;———增加了“7.10擦除处理”;———将EN 标准的7.10调整为7.11,并修改了显示器和观察条件的参数。本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。本标准起草单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院、中国特种设备检测研究院、上海材料研究所、上海英华无损检测技术有限公司、通用电气传感检测科技(上海)有限公司、杭州华安无损检测技术有限公司、哈尔滨焊接技术培训中心、艾默生过程控制流量技术有限公司、南京南化无损检测有限公司、南京晨光集团有限责任公司、上海泰司检测科技有限公司、广东盈泉钢制品有限公司。本标准主要起草人:强天鹏、郑晖、王军、郑凯、金宇飞、李博、孔凡琴、张利明、解应龙、许建芹、李政林、黄庆华、徐宁家、俞燕萍、周广祥、章怡明、曾祥照。
