标准简介
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。 本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。英文名称：Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
标准状态：现行
中标分类：航空、航天>>航空器与航天器零部件>>V29航天用液压元件与附件
ICS分类：航空器和航天器工程>>49.035航空航天用零部件
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
出版日期：2021-12-01
页数：20页
前言
航天用液压元件与附件相关标准
