标准简介
本标准规定了对波片相位延迟测量装置进行校准的术语和定义、测量原理、校准方法和校准。本标准适用于对各种原理的波片相位延迟测量装置的精度进行校准。英文名称：Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N30光学仪器综合
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-07-29
实施日期：2011-12-01
出版日期：2011-12-01
页数：16页
前言
本标准的附录A 为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本标准主要起草单位:清华大学。本标准主要起草人:张书练、刘维新、丁铭。
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