标准简介
本标准的目的是确定质量评定程序，以这种方式使按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。英文名称：Semiconductor Devices—Discrete deveice—Part 3-2:Signal (including switching) and regulator diodes—Blank detail specification for voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes (excluding temperature-compensated precision reference diodes)
标准状态：现行
替代情况：GB/T 6589-1986
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二*管
ICS分类：电子学>>半导体器件>>31.080.10二*管
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2002-12-04
实施日期：2003-05-01
出版日期：2003-05-01
页数：平装16开， 页数：14， 字数：23千字
前言
半导体二*管相关标准
