标准简介
本标准规定了半导体集成电路电压比较器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage comparators
标准状态：现行
替代情况：GB 6798-1986(调整为SJ/T 10805-1996)
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1986-08-02
实施日期：1997-01-01
出版日期：2004-04-04
页数：平装16开， 页数：29， 字数：50千字
前言
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