标准简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。英文名称：Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
标准状态：现行
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>77.040金属材料试验
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-04-01
出版日期：2015-04-01
页数：16页
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。本标准起草单位:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。本标准主要起草人:薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎。
