标准简介
本规范构成国际电工委员会电子器件质量评定体系的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序。英文名称：Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 4589.1-1989
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类：电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2006-10-10
实施日期：2007-02-01
出版日期：2007-02-01
页数：平装16开/页数：35/字数：63千字
前言
半导体分立器件综合相关标准
