标准简介
本标准规定了用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。?本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。英文名称：Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>仪器、仪表综合>>N04基础标准与通用方法
ICS分类：试验>>19.020试验条件和规程综合
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2017-05-12
实施日期：2017-12-01
页数：24页
前言
基础标准与通用方法相关标准
.png)
