标准简介
本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。该标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。 本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。英文名称：Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
标准状态：现行
中标分类：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：电气工程>>29.045半导体材料
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2017-10-14
实施日期：2018-07-01
出版日期：2017-10-01
页数：16页
前言
半金属与半导体材料综合相关标准
