标准简介
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工过程中产生的缺陷，给出了各类缺陷的特征、产生原因及消除方法。 本标准适用于区熔锗锭、锗单晶、锗研磨片和锗抛光片生产过程中产生的缺陷。英文名称：Collection of metallographs on defects of germanium crystal
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 8756-1988
中标分类：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：电气工程>>29.045半导体材料
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-07-01
出版日期：2018-12-01
页数：44页【彩图】
前言
半金属与半导体材料综合相关标准
