标准简介
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS)法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。 本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9%的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1（以质量分数计)。英文名称：High purity silicon carbide—Determination of trace elements
标准状态：现行
中标分类：综合>>基础学科>>A43化学
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-09-01
出版日期：2019-01-01
页数：12页
前言
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