YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

百检网 2022-10-29

标准简介

本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围:SiO2:0.005%~0.08%,Fe2O3:0.004%~0.07%;Na2O:0.20%~0.80%。
英文名称:Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method
标准状态:现行
中标分类:冶金>>冶金原料与辅助材料>>H30冶金原料与辅助材料综合
ICS分类:冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2009-12-04
实施日期:2010-06-01
出版日期:2010-06-01
页数:8页

前言

本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。本标准附录A 为资料性附录。本标准由中国铝业股份有限公司广西分公司负责起草。本标准参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、洛阳香江万基铝业有限公司、中国铝业有限公司河南分公司。本标准主要起草人:秦文忠、邓文军、杨韵屏、梁愈斌、何麒麟、张爱芬、马慧侠、蒋炜、邓飞、孙洪斌。

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