标准简介
本规程适用于孔与轴基本尺寸至500mm、公差等级IT6级至IT16级的校对、工作光滑*限量规的首次检定、后续检定和使用中检查。英文名称：Plain Limit Gauges
标准状态：现行
替代情况：替代JJG 343-1996
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-03-20
实施日期：2012-09-20
出版日期：2012-09-20
页数：36页
前言
JJG343 《光滑*限量规》的编写遵守JJF1002—2010 《国家计量检定规程编写规则》的规定,以JJF1001—2011 《通用计量术语及定义》、JJF1130—2005 《几何量测量设备校准中的不确定度评定指南》、GB/T1957—2006 《光滑*限量规 技术条件》、GB/T1800.1—2009 《产品几何技术规范(GPS) *限与配合 第1部分:公差、偏差和配合的基础》为基础和依据,对JJG343—1996 《光滑*限量规》进行修订的。本规程替代JJG343—1996 《光滑*限量规》,与JJG343—1996 《光滑*限量规》相比,除编辑性修改外主要技术性变化如下:———引用了GB/T1957—2006 《光滑*限量规 技术条件》中光滑*限量规的定义(见3.1);———引用了GB/T1957—2006 《光滑*限量规 技术条件》中对光滑*限量规尺寸的技术要求(见表2);———删减了对硬度的技术要求;———全形塞规的圆度、环规的圆度,母线直线度,卡规测量面的平面度,卡规测量面的平行度统一定义为量规的形位误差(见5.2);———修订了对量规的形状和位置误差的技术要求(见5.3);———增加了对校对塞规的技术要求(见5.3);———增加了光滑塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(见附录A);———增加了校对塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(见附录B);———增加了量规的代号、使用规则、尺寸公差带及其位置(见附录C);———增加了孔和轴的基本公差数值(见附录D);———增加了检定证书和检定结果通知书内页信息及格式(见附录F)。JJG343—1996 《光滑*限量规》的历次版本发布情况为:———JJG343—1984 《光滑*限量规》。
