标准简介
本规范适用于平面直角坐标系的影像测量仪，包括在垂直于平面直角坐标系方向上具有定位或测量功能的影像测量仪。英文名称：Calibration Specification for Imaging Probe Measuring Machines
标准状态：现行
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-11-14
实施日期：2012-02-14
出版日期：2012-02-14
页数：24页
前言
1 范围 (1)2 引用文件 (1)3 术语 (1)4 概述 (2)5 计量特性 (2)5.1 尺寸测量误差 (2)5.2 各截面测量结果一致性(EC) (3)5.3 探测误差 (3)5.4 变倍探测误差(PZ) (3)6 校准条件 (3)6.1 环境条件 (3)6.2 操作条件 (3)6.3 测量系统配置 (3)6.4 标准器及其他设备 (3)6.5 其他条件 (3)7 校准项目和校准方法 (4)7.1 校准尺寸测量误差EZ、EXY 和EV 的通用要求 (4)7.2 二维探测误差P2D (5)7.3 (测量平面内的)尺寸测量误差EXY (5)7.4 垂直尺寸测量误差EZ (6)7.5 各截面测量结果一致性EC (6)7.6 影像测头探测误差PV (6)7.7 影像测头尺寸测量误差EV (6)7.8 变倍探测误差PZ (6)8 校准结果表达 (7)9 复校时间间隔 (7)附录A 专用台阶规规格 (8)附录B 单、双向逼近和单、双向及对中测量 (10)附录C 用二维尺寸掩模板校准EXY 的方法 (11)附录D 测量尺寸示值误差的不确定度评定示例 (12)
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