标准简介
本规范适用于X射线荧光镀层测厚仪的校准。英文名称：Calibration Specification for X-Ray Fluorescence Coating Thickness Instruments
标准状态：现行
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2011-09-14
实施日期：2011-12-14
出版日期：2011-12-14
页数：16页
前言
1 范围 (1)2 引用文献 (1)3 概述 (1)4 计量特性 (1)4.1 厚度测量重复性 (1)4.2 示值稳定性 (1)4.3 厚度测量示值误差 (1)5 校准条件 (2)5.1 环境条件 (2)5.2 校准所用标准器及配套设备 (2)6 校准项目和校准方法 (2)6.1 校准前准备 (2)6.2 厚度测量重复性 (2)6.3 示值稳定性 (2)6.4 厚度测量示值误差 (3)7 校准结果表达 (3)8 复校时间间隔 (3)附录A 测量结果不确定度评定(示例) (4)附录B 厚度标准块的技术要求 (7)附录C 常见典型镀层材料的厚度范围 (9)
