标准简介
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪的校准。英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
标准状态：现行
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
出版日期：2010-04-05
页数：28页
前言
1 范围 (1)2 引用文献 (1)3 术语 (1)4 概述 (1)5 计量特性 (2)5.1 校准信号 (2)5.2 Y轴部分 (2)5.3 X轴部分 (2)5.4 阶梯部分 (2)5.5 集电*功耗限制电阻 (2)6 校准条件 (3)6.1 环境条件 (3)6.2 校准用标准器及其他设备 (3)7 校准项目及校准方法 (3)7.1 校准项目 (3)7.2 校准方法 (4)8 校准结果的表述 (15)9 复校时间间隔 (15)附录A 校准证书的内容 (16)附录B 测量不确定度评定的实例 (19)
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