标准简介
本规范规定了半导体器件动态参数测试系统的计量特性、校准条件和校准方法等要求。适用于集电*/漏*电压≤1000V,脉冲电流≤200A的半导体器件开关参数和栅电荷参数测试系统的校准和使用中的检验。标准状态:现行
替代情况:替代JJG(电子)31013-2007
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2015-10-31
实施日期:2015-12-01
出版日期:2015-12-01
页数:21页
标准简介
本规范规定了半导体器件动态参数测试系统的计量特性、校准条件和校准方法等要求。适用于集电*/漏*电压≤1000V,脉冲电流≤200A的半导体器件开关参数和栅电荷参数测试系统的校准和使用中的检验。1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;
2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务,让检测更精准;
4、免费初检,初检不收取检测费用;
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短,费用低,服务周到;
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;
8、检测报告权威有效、中国通用;
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