GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 现行

标准号：GB/T 36655-2018
中文标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
英文标准名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
标准状态：现行,发布于2018-09-17; 实施于2019-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：31.030
国际标准分类号：31.030
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心;汉高华威电子有限公司;江苏联瑞新材料股份有限公司
相近标准：20141079-T-469 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法; GB/T 32661-2016 球形二氧化硅微粉; 20082071-T-609 球形二氧化硅微粉; GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法; 20141080-T-469 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法; 20067338-T-605 电炉回收二氧化硅微粉; GB/T 21236-2007 电炉回收二氧化硅微粉; SJ/T 10675-2002 电子及电器工业用二氧化硅微粉; YB/T 115-1997 不定形耐火材料用二氧化硅微粉; GB/T 20020-2013 气相二氧化硅