GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 现行

标准号：GB/T 36477-2018
中文标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
标准状态：现行,发布于2018-06-07; 实施于2019-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：31.200
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院;上海复旦微电子集团股份有限公司;北京兆易创新科技股份有限公司;中兴通讯股份有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;深圳市中兴微电子技术有限公司;复旦大学
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