GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 现行

百检网 2021-05-26
标准号:GB/T 35006-2018
中文标准名称:半导体集成电路 电平转换器测试方法
英文标准名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
标准状态:现行,发布于2018-03-15; 实施于2018-08-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2018-03-15
实施日期:2018-08-01
中国标准分类号:31.200
国际标准分类号:31.200
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:深圳市国微电子有限公司;工业和信息化部电子第五研究所;中国电子科技集团公司第五十八研究所;成都振芯科技股份有限公司
相近标准:20154235-T-339 半导体集成电路 电平转换器测试方法; 半导体集成电路 电平转换器测试方法; SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理; 20192062-T-339 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器; 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器; 20192064-T-339 半导体集成电路 霍尔电路测试方法; 半导体集成电路 霍尔电路测试方法; 20192061-T-339 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器; 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器; GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

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