GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法 现行

标准号：GB/T 31359-2015
中文标准名称：半导体激光器测试方法
英文标准名称：Test methods of semiconductor lasers
标准状态：现行,发布于2015-02-04; 实施于2015-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2015-02-04
实施日期：2015-08-01
中国标准分类号：31.260
国际标准分类号：31.260
归口单位：全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
执行单位：全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
主管部门：中国机械工业联合会
起草单位：西安炬光科技有限公司;中国科学院半导体研究所;武汉华工正源光子技术有限公司;中国科学院西安光学精密机械研究所;北京国科世纪激光技术有限公司;中国电子科技集团公司第十三研究所
相近标准：20112015-T-604 半导体激光器测试方法; GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范; 20112014-T-604 半导体激光器总规范; DB22/T 2725-2017 980 nm光纤光栅半导体激光器; SJ/T 11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范; YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件; GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法; 20141860-T-339 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法; 20030234-T-339 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法; GB/T 21548-2008 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法