GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法 现行

标准号：GB/T 17444-2013
中文标准名称：红外焦平面阵列参数测试方法
英文标准名称：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
标准状态：现行,发布于2013-11-12; 实施于2014-04-15; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
中国标准分类号：31.260
国际标准分类号：31.260
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国科学院上海技术物理研究所
全部替代标准：GB/T 17444-1998
相近标准：20064720-T-339 红外焦平面阵列参数测试方法; GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范; GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法; 20062035-T-339 红外探测器参数测试方法; GB/T 13584-1992 红外探测器参数测试方法; TB/T 2490-1994 扣件荷载参数测试方法; GB/T 12649-2017 气象雷达参数测试方法; 20063330-T-339 气象雷达参数测试方法; GB/T 12649-1990 气象雷达参数测试方法; 20120143-T-339 处理器电参数测试方法