GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 现行

标准号：GB/T 27760-2011
中文标准名称：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
英文标准名称：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
标准状态：现行,发布于2011-12-30; 实施于2012-05-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2011-12-30
实施日期：2012-05-01
中国标准分类号：19.020
国际标准分类号：19.020
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
起草单位：国家纳米科学中心
采标情况：本标准修改采用其他国际标准：ASTM E 2530-2006。
采标中文名称:利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法。
相近标准：20081451-T-491 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法; 20140894-T-491 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法; 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序; GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法; 20078478-T-491 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法; GB/T 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术; 20130922-T-491 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术; GB/T 36969-2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法; 20091793-T-491 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法; GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法