GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜） 废止

标准号：GB/Z 26083-2010
中文标准名称：八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）
英文标准名称：Determination for Copper(II) octaalkoxyl-substituted phthalocyanine on graphite surface (scanning tunneling microscope)
标准状态：废止,发布于2011-01-10; 实施于2011-10-01; 废止于2017-12-15
标准类型：国家标准
标准性质：指导性技术文件
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
中国标准分类号：17.040.20
国际标准分类号：17.040.20
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
起草单位：中国科学院化学研究所（分子纳米结构与纳米技术院重点实验室）;国家纳米科学中心
相近标准：20067464-T-491 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）; JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则; DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法; GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法; 20074431-T-491 扫描探针显微镜漂移速率测量方法; GB/T 31226-2014 扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法; 20078476-T-491 扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法; 20210878-T-469 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准; 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准; GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式