GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 现行

标准号：GB/T 25185-2010
中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
英文标准名称：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：现行,发布于2010-09-26; 实施于2011-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：北京师范大学分析测试中心
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 19318:2004。
采标中文名称:表面化学 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告。
相近标准：20071057-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告; GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; 20121403-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 20201568-T-469 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能的评估方法; GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序