GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 现行

标准号：GB/T 1555-2009
中文标准名称：半导体单晶晶向测定方法
英文标准名称：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
标准状态：现行,发布于2009-10-30; 实施于2010-06-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
中国标准分类号：29.045
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：峨嵋半导体材料厂
全部替代标准：GB/T 1555-1997
相近标准：GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法; 20065620-T-469 半导体单晶晶向测定方法; 半导体单晶晶向测定方法; 20204892-T-469 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法; 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法; GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法; GB/T 39137-2020 难熔金属单晶晶向测定方法; 20173524-T-610 难熔金属单晶晶向测定方法; 难熔金属单晶晶向测定方法; 20130021-T-469 蓝宝石单晶晶向测定方法